量子效率测定系统QE-2000
简 述:
量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作,可以在短时间内完成试料的测量及解析。
品 牌:
日本 大塚电子
产品型号:
- QE-2000
新闻
更多QE-2000 使用高精度测量仪(注1),利用激发光和荧光的光量子数求得量子效率(量子产额),从而实现绝对的高精度测量。
此前方法 | QE2000 | ||
粉剂试料 | 用配光法
(测量空间分布)测量
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使用积分半球测量 | •操作简单
•短时间内即可测出
•装置简单精巧
•不需要暗室
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粉剂试料 | 量子效率(量子产额)
对比测量
已知试料
与对象试料
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只测量对象试料
使用积分半球测量
|
•短时间内即可测出
•不需要其他准备测试(吸光度测试
等)
•不需要已知试料的量子效率(量子
产量),不依赖于已知试料的精度
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注1:根据计量法校正企业登录制度(JCSS),按照国家标准可追踪标准光源进行校正。
注2:荧光体试料所吸收的光量子数
量子效率(量子产额)的测量示意图
参考值以及样品的激发光、荧光光谱的测量示例
注2:荧光体试料所吸收的光量子数
量子效率测定 系统QE-2000的优点
实现绝对测量的大塚电子专注于以下3 点。
专注于高精度测量
- 可以瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)
- 可以除去激发荧光发光光谱
- 采用积分半球系统,实现高亮度测量
- 采用低杂光多频分光检出器,大幅度减少紫外域的杂光
专注于简单操作
- 使用专用软件,操作简单
- 轻松安装
- 拆卸试料测量用固定治具
- 节省空间,设计简洁
- 使用分光器类型的激发光源,可以选择任意波长
- 可以在软件上设定激发光源的波长及步值,实现自动测量
专注于全面测量
- 可以测量粉剂、溶液、固体(薄膜)、薄膜试料
- 丰富的解析功能
- 测量量子效率(量子产额)
- 测量激发波长依赖性
- 测量发光光谱
- 测量PL 激发光谱
- 测量EEM(Excitation Emission Matrix)
应用领域
- 用于测量LED、有机EL 用荧光体的量子效率(量子产额)
- 用于测量薄膜形状试料的透射荧光•反射荧光的量子效率(量子产额)(远程荧光粉用荧光体样品等)
- 用于测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光
- 用于测量色素敏化太阳能电池的量子效率(量子产额)
- 用于测量络化物化合物
量子效率测定系统QE-2000产品规格
样式 | 3683c | 311c | 2580c | 3095c | |||||
测量波长范围 | 360~830nm | 360~1100nm | 250~800nm | 300~950nm | |||||
1 像素的波长宽度
光接收像素CH 数
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1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm | 1.4nm | 0.7nm | |
512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | ||
像素 | 电子冷却式CCD 图像传感器 | ||||||||
位深 | 16 位 | ||||||||
分光器光学配置 | 背底(flatfield)型F=3,f=85.8mm | ||||||||
激发光源 | |||||||||
光源 | 150W Xe 灯 | ||||||||
激发波长 | 250~800nm | ||||||||
带宽 | FWHM 5nm/Slit 0.6mm | ||||||||
样品抗光降解 | 自动关闭装置 | ||||||||
激发波长控制 | 自动控制 | ||||||||
积分球 | |||||||||
材质 | Spectralon(美国Labsphere 公司**材料名 无中文) | ||||||||
尺寸 | 150mm 半球(HalfMoon) | ||||||||
样品固定治具 | |||||||||
粉剂测量固定治具 | SUS304 制,无石英盖 | ||||||||
溶液测量用固定治具(常温) | 石英制溶液容器(开放型) | ||||||||
功耗 | |||||||||
电源电压 | AC100~120V/AC 200~230V | ||||||||
软件 | |||||||||
量子效率(量子产额)测量
量子效率(量子产额)的激发波长依赖特性
反射光谱测量
PL 激发光谱
EEM(Excitation Emission Matrix)显示
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二次激发校正
发光光谱测量
透过•吸收光谱测量
颜色演算(色度、色温、演色性等)
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