筛选
screen-
Mini LED 芯片膜厚测试系统
介绍: 测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚电子型号: optm -
量子效率测定系统QE-2000
介绍: 量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作,可以在短时间内完成试料的测量及解析。品牌: 日本 大塚电子型号: QE-2000