筛选
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反射式膜厚测量仪FE-3000
介绍: 可完美对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析品牌: 日本 大塚电子型号: FE-3000 -
量子效率测定系统QE-2000
介绍: 量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作,可以在短时间内完成试料的测量及解析。品牌: 日本 大塚电子型号: QE-2000