筛选
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棱镜耦合仪Model 2010
介绍: Metricon公司的Model 2010棱镜耦合仪使用先进的光波导技术,对电介质及聚合物膜的膜厚和折射率/ 双折射进行快速及准确的测量。对于许多薄膜及光波导用途,Model 2010 提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。品牌: 美国 Metricon型号: Model 2010 -
Mini LED 芯片膜厚测试系统
介绍: 测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚电子型号: optm -
椭圆偏振光测量仪FE5000
介绍: 通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析品牌: 日本 大塚电子型号: FE5000 -
膜厚测量仪FE-300
介绍: 小型・低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!品牌: 日本 大塚电子型号: FE-300 -
OPTM 半导体膜厚测试仪
介绍: 测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚电子型号: optm