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棱镜耦合仪Model 2010
介绍: Metricon公司的Model 2010棱镜耦合仪使用先进的光波导技术,对电介质及聚合物膜的膜厚和折射率/ 双折射进行快速及准确的测量。对于许多薄膜及光波导用途,Model 2010 提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。品牌: 美国 Metricon型号: Model 2010 -
反射式膜厚测量仪FE-3000
介绍: 可完美对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析品牌: 日本 大塚电子型号: FE-3000