筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 美国 Advanced Optowave Corporation (AOC)
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Boston Electronics
- 美国 Bristol Instruments
- 英国 Chromacity
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- Dualix
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 美国 HelioWorks
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 加拿大 Lumenera
- 美国 Mcpherson
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 美国 Modu-Laser
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 德国 Opsira
- 以色列 OptiqGain
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 法国 Pleiades
- 美国 PRO
- 德国 Proxivision
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 美国 Radiant
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 荷兰 Spectral Industries
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 德国 VALO INNOVATIONS
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 荧飒光学
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
- 激光闪光光解
- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 反射光谱
- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- PIV
- 激光雷达反射测试
- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
- 仪表盘测试
- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
- 火车轮毂温度测试仪
- 膜厚测试仪
- HUD
- PIV
- 激光雷达
- 激光防护
- 激光波前测试
- 激光器光路调整
- 激光显示测试
- 波长测试
- FBG刻写
- 光通信器件生产和检验系统
- GPS/北斗授时
- 光源测试
- 光学A/D
- 器件网络测试
- 微量气体分析
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- EUV器件检测
- 失效分析
- EUV光源检测
- 新风系统二氧化碳检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
- TOC有机总碳测试
- VOC有害气体检测
- 食品异物检测
- 拉曼测量
- 地物高光谱
- 环境检测
- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
- TDLAS
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 生化分析
- 气体分析
- 血氧测试仪
- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
- 血球分析
- 激光医美
- 光声光谱与成像
- 化学发光测试仪
- 医用照明测试
- 医学光度色度测试
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 生物自荧光
- 生物荧光拉曼
- 光镊/ 生物荧光
- 光束整形/涡旋光
- CARS/SRS
- 眩光测试
- 光源频闪测试
- 显微成像
- 血管成像
- OCT
- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 近红外光谱测试
- 火灾探测
- X射线安检
- 拉曼测量
- 人体/行李违禁物检测
- 高光谱成像校准
- 深空成像系统标定
- 遥感高光谱成像
- 杂散光吸收
- 液晶可调滤光片
- 空间光通讯
- 空间观测与LIDAR
- 遥感镜头杂散光模拟测试
- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
- PLIF
- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
- 光梳
- 原子冷却
- 照度计量
- 光度色度计量
- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
- Trulume显示屏测试
- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
- 准直均匀光源
- 分布光度计
- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
- 自动光学检测
- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
- LIBS
- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
- 光束品质分析
- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
- AR/VR 设备测量
- 紫外切割
- 超快微加工
- 显示屏测试
- 激光安全认证
- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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消光比测试仪PEM-340
介绍： PEM-340 消光比测试仪提供光学元件与保偏光纤（PMF）之间的快速、精确的偏振对准功能。通过GPIB 介面可实现完全的系统集成及产线自动化。采用为二级管激光器与光纤快速对准而设计的1kHz 响应时间模拟输出功率计，可实现光纤平移/ 旋转对准的自动化控制。品牌： 日本 Santec型号： PEM-340 -
偏振光源PLS-100
介绍： Santec PLS-100 偏振光源面向偏振相关器件研发和产品线测试，提供1330nm、1550nm，高稳定功率的45dB 消光比可调节偏振光输出。典型应用包括光学元器件的偏振测试与调整，保偏光纤接头的测试与固定作业等。品牌： 日本 Santec型号： PLS-100 -
模块式偏振控制器MLC
介绍： MLC系列控制模块用于灵活地控制激光的偏振和强度。采用卡槽式设计，三个卡位可放置半波片、四分之一波片、偏振片卡盘的灵活组合，并可分别精密调节；两端光纤接口用于光信号输入输出。 光学元件卡盘具备清晰的读数，使得精密调节简便易行，稳定性、重复性俱佳。品牌： 日本 Santec型号： MLC -
时间分辨像增强模块TRiCATT
介绍： TRiCATT可以应用于科研或是工业领域，集成了镜头耦合的像增强器。可以应用在以下场景： 1，弱光成像，2，快速门控的超快曝光，3，用于锁相探测的频域成像。品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： TRiCATT -
LIFA荧光寿命系统附件
介绍： LIFA是适用于荧光寿命显微成像（FLIM）。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机，可调制光源，调制控制器，定制电脑以及LI-FLIM软件。像增强相机包含像增强器，CCD相机，可以获得*高增益和采集速率。品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： LIFA -
高速像增强相机模块 HiCATT
介绍： HiCATT是一款用于同高速相机共同工作使用的像增强模块。该模块可以实现弱信号放大到10000倍以上，提高高速相机的灵敏度，从而实现高速的弱光成像。HiCATT有高质量的镜头耦合装置，适合市面上主流高速相机接口。品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： HiCATT -
频分复用光时域反射仪FOTDR-300
介绍： FOTDR-300 频分复用相干光时域反射仪(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR) 不同于传统的C-OTDR。它在同一个时间段内发送不同频率的多个探针脉冲，从而在同样的测试时间内获取更多的数据，因此可以在相同时间内获得更高的信噪比，或者在同等信噪比下大幅度缩减测量时间。品牌： 日本 Alnair Labs型号： FOTDR-300 -
可编程光延时器ADL-200
介绍： ADL-200 可编程光延时器提供高达2.5ns 的可调延时，具备低插损、低损耗起伏的特征，适合各种延迟线应用。品牌： 日本 Alnair Labs型号： ADL-200
13810233784
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