筛选

screen

类别

  • 快速扫描测量系统

    介绍: 快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件,为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比,获取高精度的IL、WDL 以及PDL(采用Muller 矩阵方法)。
    品牌: 日本 Santec
    型号: 快速扫描测量系统
  • 多通道光电探头阵列MPA-100

    介绍: MPA-100 为一台高度集成、机架安装的带尾纤光电二极管阵列。 为光功率测试提供1/10 传统光功率计的成本和体积。
    品牌: 日本 Santec
    型号: MPA-100
  • 多通道功率计MPM-210

    介绍: MPM-210 系列为新型的多端口光功率计,非常适合测量多端口光学设备。MPM-210可以非常快的速度和高分辨率同时测量多达20 个端口(每个MPM-211 模块4 个通道)的光功率。具备高精度,高线性度,极低偏振依赖。可测量1250~1650nm 范围内-80~ +10dBm 的光功率,提供GPIB、RS232、TCP/IP 通讯介面
    品牌: 日本 Santec
    型号: MPM-210
  • 消光比测试仪PEM-340

    介绍: PEM-340 消光比测试仪提供光学元件与保偏光纤(PMF)之间的快速、精确的偏振对准功能。通过GPIB 介面可实现完全的系统集成及产线自动化。采用为二级管激光器与光纤快速对准而设计的1kHz 响应时间模拟输出功率计,可实现光纤平移/ 旋转对准的自动化控制。
    品牌: 日本 Santec
    型号: PEM-340
  • 偏振光源PLS-100

    介绍: Santec PLS-100 偏振光源面向偏振相关器件研发和产品线测试,提供1330nm、1550nm,高稳定功率的45dB 消光比可调节偏振光输出。典型应用包括光学元器件的偏振测试与调整,保偏光纤接头的测试与固定作业等。
    品牌: 日本 Santec
    型号: PLS-100
  • 模块式偏振控制器MLC

    介绍: MLC系列控制模块用于灵活地控制激光的偏振和强度。采用卡槽式设计,三个卡位可放置半波片、四分之一波片、偏振片卡盘的灵活组合,并可分别精密调节;两端光纤接口用于光信号输入输出。 光学元件卡盘具备清晰的读数,使得精密调节简便易行,稳定性、重复性俱佳。
    品牌: 日本 Santec
    型号: MLC
  • 频分复用光时域反射仪FOTDR-300

    介绍: FOTDR-300 频分复用相干光时域反射仪(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR) 不同于传统的C-OTDR。它在同一个时间段内发送不同频率的多个探针脉冲,从而在同样的测试时间内获取更多的数据,因此可以在相同时间内获得更高的信噪比,或者在同等信噪比下大幅度缩减测量时间。
    品牌: 日本 Alnair Labs
    型号: FOTDR-300
  • 可编程光延时器ADL-200

    介绍: ADL-200 可编程光延时器提供高达2.5ns 的可调延时,具备低插损、低损耗起伏的特征,适合各种延迟线应用。
    品牌: 日本 Alnair Labs
    型号: ADL-200