筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 美国 Advanced Optowave Corporation (AOC)
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Boston Electronics
- 美国 Bristol Instruments
- 英国 Chromacity
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- Dualix
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 美国 HelioWorks
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 加拿大 Lumenera
- 美国 Mcpherson
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 美国 Modu-Laser
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 德国 Opsira
- 以色列 OptiqGain
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 法国 Pleiades
- 美国 PRO
- 德国 Proxivision
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 美国 Radiant
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 荷兰 Spectral Industries
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 德国 VALO INNOVATIONS
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 荧飒光学
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
- 激光闪光光解
- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 反射光谱
- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- PIV
- 激光雷达反射测试
- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
- 仪表盘测试
- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
- 火车轮毂温度测试仪
- 膜厚测试仪
- HUD
- PIV
- 激光雷达
- 激光防护
- 激光波前测试
- 激光器光路调整
- 激光显示测试
- 波长测试
- FBG刻写
- 光通信器件生产和检验系统
- GPS/北斗授时
- 光源测试
- 光学A/D
- 器件网络测试
- 微量气体分析
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- EUV器件检测
- 失效分析
- EUV光源检测
- 新风系统二氧化碳检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
- TOC有机总碳测试
- VOC有害气体检测
- 食品异物检测
- 拉曼测量
- 地物高光谱
- 环境检测
- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
- TDLAS
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 生化分析
- 气体分析
- 血氧测试仪
- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
- 血球分析
- 激光医美
- 光声光谱与成像
- 化学发光测试仪
- 医用照明测试
- 医学光度色度测试
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 生物自荧光
- 生物荧光拉曼
- 光镊/ 生物荧光
- 光束整形/涡旋光
- CARS/SRS
- 眩光测试
- 光源频闪测试
- 显微成像
- 血管成像
- OCT
- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 近红外光谱测试
- 火灾探测
- X射线安检
- 拉曼测量
- 人体/行李违禁物检测
- 高光谱成像校准
- 深空成像系统标定
- 遥感高光谱成像
- 杂散光吸收
- 液晶可调滤光片
- 空间光通讯
- 空间观测与LIDAR
- 遥感镜头杂散光模拟测试
- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
- PLIF
- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
- 光梳
- 原子冷却
- 照度计量
- 光度色度计量
- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
- Trulume显示屏测试
- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
- 准直均匀光源
- 分布光度计
- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
- 自动光学检测
- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
- LIBS
- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
- 光束品质分析
- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
- AR/VR 设备测量
- 紫外切割
- 超快微加工
- 显示屏测试
- 激光安全认证
- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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OCT主控软件Inner Vision Software
介绍： VS 软件随所有IVS SS-OCT 系统提供。它包括1D，2D，3D 及成像模式，可存储为各种图形格式也可存储原始数据。所有IVS 软件功能亦可通过Santec 的SDK，利用C++/ C#/ Lab view 编程实现。品牌： 日本 Santec型号： Inner Vision Software -
OCT 级干涉模组IFM
介绍： IFM100 及IFM200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组，通常为每个客户的OCT 系统配置而订制，可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控光学延迟线之类的功能。Santec 也可为OEM 用户订制解决方案包括Michelson 及Fizeau 干涉仪品牌： 日本 Santec型号： IFM -
灵活性SS-OCT 数据采集器HAD-5200B-S
介绍： HAD-5200B-S 提供高速DAQ与Santec 高性能扫频光源兼容。重定标技术写入FPGA，用于实时OCT 图形处理。品牌： 日本 Santec型号： HAD-5200B-S -
平衡探测器BPD-200
介绍： 平衡探测器输出一个与两路光信号之间的差值有关的信号，是扫频OCT 的常规探测器，可避免激光器功率起伏导致的共模噪声。 Santec BPD-200 为OCT 专门设计，具备很低的背反射和平坦的平衡响应，可减轻不期望的伪图像。BPD-200 在检测两路位相相反的信号时灵敏度为3dB，可在大多数场合用在外差测量系统品牌： 日本 Santec型号： BPD-200 -
FMCW LiDAR-InnerVision
介绍： InnerVision FMCW LiDAR 采用高速扫频、单纵模1060nm 光源HSL-1。借助光源单纵模、超长相干距离的特性，可实现长距离3-D 形貌绘制品牌： 日本 Santec型号： FMCW LiDAR-InnerVision -
GaiaSky-Mini3-VN机载高光谱成像系统
介绍： GaiaSky mini3-VN无人机载高光谱成像系统完美适配大疆M300 RTK。采用内置扫描系统和基于大疆Payload SDK开发的专用三轴增稳云台系统，成功克服了无人机系统搭载高光谱相机时，由于无人机系统的自身震动，以及飞行过程中由于飞机偏航、俯仰和翻滚所造成的成像质量扭曲变形的问题。在获取研究对象的影像的同时获得每个像元的光谱分布，定量分析地球表面生物物理化学过程和参数，为无人机载高光谱成像技术在目标识别、伪装与反伪装军事领域，地面物体与水体遥测、现代精细农业等生态环境监测等领域的广泛应用奠定了基础。品牌： Dualix型号： GaiaSky mini3-VN -
显微高光谱系统GaiaMicro
介绍： GaiaMicro-G系列显微高光谱系统是将推扫型高光谱相机与显微镜结合，构成显微高光谱系统的主体，再借助显微镜的光路系统、不同倍率的物镜（可见）、不同倍率的反射物镜（红外）以及二维电控扫描平台来实现的。品牌： Dualix型号： GaiaMicro-G系列,GaiaMicro-F系列
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