MF250N手持式频闪仪
简 述：
MF250N手持式频闪仪是同时具备分光光谱数据频闪检测仪,同步提供CCT,LUX等光谱计数据，专业的光源驱动波形测试，并附有简易的光谱测试功能。适合专业工程人员作为其照明驱动频率异常的测试；其中的重要频闪分析参数有包括有:闪烁百分比（PercentFlicker）和闪烁指数（FlickerIndex）及频闪效应可视参数SVM
品 牌：
UPRtek
产品型号：
- MF250N
新闻
更多MF250N手持式频闪仪是UPRtek公司制造的一部轻巧，易携带的频闪测量仪。以其优良的性能和极高的性价比在市场上广受好评。
MF250N手持式频闪仪是同时具备分光光谱数据频闪检测仪,同步提供CCT,LUX等光谱计数据，专业的光源驱动波形测试，并附有简易的光谱测试功能。适合专业工程人员作为其照明驱动频率异常的测试；其中的重要频闪分析参数有包括有:闪烁百分比（PercentFlicker）和闪烁指数（FlickerIndex）及频闪效应可视参数SVM（stroboscopiceffectvisibilitymeasure）。
功能：
MF250N手持式频闪仪偏重于在频闪（Flicker）数据的测试分析，同时可以得到光源的光谱参数。若客户仅需透过手持式的仪器与买家或卖家做即时性的产品规格比对、确认,或者推广验证自家产品的质量，选择MF250N相对是性价比很高的优质选择。
测量模式分为基本模式、光谱模式、频闪模式、频率模式、波幅模式。
基本模式中，可以得到测量光源后的相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、照度（LUX）、峰值波长P、曝光时间（I-Time）。
频闪模式中，在测量界面上可以显示5个频闪相关参数，Flicker Index、Flicker Percentage、VESAFMA、FFT Frequency、FFT Magnitude。此模式是持续监控测量，可以获得该光源所包含的光源频率的相对强度。
波幅模式可以连续监控测量得到该光源的频率和相对强度。
MF250N手持式频闪仪校正
建议每次开机使用MF250N前，执行暗校正。同时，本品为高精度测量仪器，内部包含许多敏感元件，请小心使用。为确保测量的准确性，建议每年校正一次，校正服务请与本公司联系。
通过 LightWave 模式，好比有一台示波器立即检测频率波形，及显示振幅大小变化。
透过FFT傅立叶转换量測，了解灯源驱动原件与光源电路整合后，测出工作状态波形vs.频率，并进一步分析驱动细节。
IEEE PAR1789-Percent Flicker-频闪百分比 （以Fpercentage（%）表示）
光源输出周期变化的相对测量值，数值高代表频闪可能性越高
标准：Fpercentage（%） 输出频率 x 0.08
图中举例量测得到结果： 58% 在频率 120Hz的情况下
58% 120Hz * 0.08 -- 频闪可能性高
Energy Star-Flicker Index-频闪指数（以Findex表示）
数值：0-1 数值越大，频闪越严重
限制：
1)100HZ :不可有Flicker
2)100~800HZ: 符合要求区
3)800HZ : Flicker 允許（Flicker 指数可忽略）
SVM（Stroboscopic Visibility Measure）-低频闪控制技术与指标
推广单位：PHILIPS CIE 美国能源局等组织共同合作研究-针对 80HZ 以上频闪效应的影响，制定量测标准
SVM1 可见频闪 ，SVM=1 刚好可见， SVM1 不可见频闪
例图: 自转的转盘
案例分享：
可见频闪
不可见频闪
MF250N手持式频闪仪参数
MF250N手持式频闪仪是同时具备分光光谱数据频闪检测仪,同步提供CCT,LUX等光谱计数据，专业的光源驱动波形测试，并附有简易的光谱测试功能。适合专业工程人员作为其照明驱动频率异常的测试；其中的重要频闪分析参数有包括有:闪烁百分比（PercentFlicker）和闪烁指数（FlickerIndex）及频闪效应可视参数SVM（stroboscopiceffectvisibilitymeasure）。
功能：
MF250N手持式频闪仪偏重于在频闪（Flicker）数据的测试分析，同时可以得到光源的光谱参数。若客户仅需透过手持式的仪器与买家或卖家做即时性的产品规格比对、确认,或者推广验证自家产品的质量，选择MF250N相对是性价比很高的优质选择。
测量模式分为基本模式、光谱模式、频闪模式、频率模式、波幅模式。
基本模式中，可以得到测量光源后的相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、照度（LUX）、峰值波长P、曝光时间（I-Time）。
频闪模式中，在测量界面上可以显示5个频闪相关参数，Flicker Index、Flicker Percentage、VESAFMA、FFT Frequency、FFT Magnitude。此模式是持续监控测量，可以获得该光源所包含的光源频率的相对强度。
波幅模式可以连续监控测量得到该光源的频率和相对强度。
MF250N手持式频闪仪校正
建议每次开机使用MF250N前，执行暗校正。同时，本品为高精度测量仪器，内部包含许多敏感元件，请小心使用。为确保测量的准确性，建议每年校正一次，校正服务请与本公司联系。
通过 LightWave 模式，好比有一台示波器立即检测频率波形，及显示振幅大小变化。
透过FFT傅立叶转换量測，了解灯源驱动原件与光源电路整合后，测出工作状态波形vs.频率，并进一步分析驱动细节。
IEEE PAR1789-Percent Flicker-频闪百分比 （以Fpercentage（%）表示）
光源输出周期变化的相对测量值，数值高代表频闪可能性越高
标准：Fpercentage（%） 输出频率 x 0.08
图中举例量测得到结果： 58% 在频率 120Hz的情况下
58% 120Hz * 0.08 -- 频闪可能性高
Energy Star-Flicker Index-频闪指数（以Findex表示）
数值：0-1 数值越大，频闪越严重
限制：
1)100HZ :不可有Flicker
2)100~800HZ: 符合要求区
3)800HZ : Flicker 允許（Flicker 指数可忽略）
SVM（Stroboscopic Visibility Measure）-低频闪控制技术与指标
推广单位：PHILIPS CIE 美国能源局等组织共同合作研究-针对 80HZ 以上频闪效应的影响，制定量测标准
SVM1 可见频闪 ，SVM=1 刚好可见， SVM1 不可见频闪例图: 自转的转盘
案例分享：
可见频闪
不可见频闪
MF250N手持式频闪仪参数
光 谱 |
探测器 | CMOS线性探测器 | 显 示 资 料 |
1.频闪指数 | |
| 光谱波长宽度 | 约15nm（半波宽） | 2.频闪百分比 | |||
| 探头窗口 | 6.60.1mm | 3.VESA频闪调幅 | |||
| 光谱波长范围 | 380-780nm | 4.光频率 | |||
| 曝光时间 | 6-1200ms | 5.频闪频域图 | |||
| 测量范围 | 70-70000Lux | 6.频闪时域图 | |||
频 闪 |
取样速度 | 5K/Sec | 7.色温 | ||
| 频率范围 | 5-2000Hz | 8.显色指数 | |||
| 频率解析度 | 5Hz | 9.照度 | |||
| 测量范围 | 30-60000Lux | 10.波长峰值 | |||
| 依据规范 | IES/ASSIST/ENERGY STAR/VESA | 11.曝光时间 | |||
| 测量应答时间 | ＜3.0Sec | 12.光谱图 | |||
显 示 模 式 |
1.基本模式 | 照度精度 | Illuminant A@2856K@20000Lux | 5% | |
| 2.光谱模式 | 相关色温 | 3.5% | |||
| 3.频闪模式 | 显色指数 | 2.5% | |||
| 4.频率模式 | 频闪精度 | 5% | |||
| 5.波幅模式 | 显示 | 2.8 | |||
13810233784
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