深入理解劳厄相机
劳厄相机是Photonic Science公司的核心产品之一。近期，Photonic Science公司经理Daniel Brau对衍射劳厄相机的工作原理进行系统介绍，并且深入讲解了劳厄晶体定向分析系统的独特优势。
劳厄技术基本原理
劳厄技术基于反射几何学，将复色的弱X射线激发源穿过探测器打到样品上，样品反射X射线束，形成一组衍射点并直接记录在探测器上。衍射图形的参数对于每一个晶体都是特定的，可用于材料分析和物理生长过程分析，切割具有电光特性的晶体。
中心轴校准后的蓝宝石样品劳厄斑点
劳厄衍射到底是什么？
如果我们深入研究一下劳厄相机的物理原理，可以发现实际上是X射线与单晶或者合金上的电子云相互作用。如果反射光满足布拉格定律，就会被记录在劳厄探测器上，这是一个相对来说简单的公式，它允许你根据晶体的特定方向来定位这些点。
布拉格定律：当X射线束的入射角满足晶面间X射线路径长度的差值为波长的整数倍时，就会发生相长干涉，产生衍射光束 
怎样得到劳厄衍射图样？
假设实验时，需要沿晶体方向测量精确度＜0.1°的斜切角度。首先，通过理论模拟设计实验，并检测记录相对于理论点位置的偏差。PSEL专用劳厄软件内置布拉格方程，可以准确计算晶格三个角轴上定位方程。
PSEL专用劳厄软件
劳厄系统的主要构架是什么？
PSEL劳厄系包含高亮度微区X射线源，低噪声、大面积X射线探测器，以及手动或电动位移台用于放置样品。之前的劳厄相机多采用2kWX射线源，这需要配备复杂的冷却装置和耗电设备，PSEL公司的劳厄系统选用25瓦X射线激发源，有效解决上述问题。
可以简单介绍一下劳厄系统吗？
PSEL公司的劳厄相机选用更小的X射线激发光源激发样品，可检测亚毫米级的样品。结合大面积、高分辨率探测器，我们可以将定向精度降到0.05°。PSEL公司的劳厄系统的结构设计满足晶片、大型铸锭以及涡轮合金等更大的部件使用需求。
垂直劳厄系统
PSEL公司的劳厄相机和市场上的其他相机还有什么不同？
PSEL公司的劳厄相机的X射线激发源的光束尺寸远小于市场上的其他相机，因此可以用于分析晶粒的结构/方向。该系统可以自动获取多达10000个大型多晶样品的取向测量，在太阳能电池方面，有助于了解晶粒取向对电池效率的影响。
多晶硅晶片扫描器
为什么要选用PSEL劳厄相机配件？
PSEL劳厄相机可以根据客户的环境和要求定制。可提供系统解决方案，例如：样品架、角度计、扫描台等，方便用户在转移到合适的切割工具前，对晶体进行常规校准。
探测器材料如CdTe，GaAs，微电子基片如GaN，压电材料和硅片切割可实现批次自动测量。PSEL劳厄相机提供的样品架可通过软件一次性采集多达100个样品。
PSEL劳厄相机可容纳10-100kg样品，可用于激光材料，大体积蓝宝石等样品检测。
PSEL劳厄相机配置多点扫描程序的高精密位移台，可以实现对氮化铝等薄膜方向的控制。
劳厄晶体定向系统
您还有什么感兴趣的吗？
PSEL公司初期是为科研客户提供相机，通过多年的市场推广，已经能面向工业客户为其提供系统解决方案。不同于老式昂贵的劳厄相机，本产品是为工业定制，目前已有超过200个系统在运行。
如果您对Daniel的问答环节感兴趣，想了解更多关于我们劳厄相机的信息，可联系我公司：北京先锋泰坦科技有限公司！
劳厄技术基本原理
劳厄技术基于反射几何学，将复色的弱X射线激发源穿过探测器打到样品上，样品反射X射线束，形成一组衍射点并直接记录在探测器上。衍射图形的参数对于每一个晶体都是特定的，可用于材料分析和物理生长过程分析，切割具有电光特性的晶体。
中心轴校准后的蓝宝石样品劳厄斑点
如果我们深入研究一下劳厄相机的物理原理，可以发现实际上是X射线与单晶或者合金上的电子云相互作用。如果反射光满足布拉格定律，就会被记录在劳厄探测器上，这是一个相对来说简单的公式，它允许你根据晶体的特定方向来定位这些点。
布拉格定律：当X射线束的入射角满足晶面间X射线路径长度的差值为波长的整数倍时，就会发生相长干涉，产生衍射光束
假设实验时，需要沿晶体方向测量精确度＜0.1°的斜切角度。首先，通过理论模拟设计实验，并检测记录相对于理论点位置的偏差。PSEL专用劳厄软件内置布拉格方程，可以准确计算晶格三个角轴上定位方程。
PSEL专用劳厄软件
劳厄系统的主要构架是什么？
PSEL劳厄系包含高亮度微区X射线源，低噪声、大面积X射线探测器，以及手动或电动位移台用于放置样品。之前的劳厄相机多采用2kWX射线源，这需要配备复杂的冷却装置和耗电设备，PSEL公司的劳厄系统选用25瓦X射线激发源，有效解决上述问题。
可以简单介绍一下劳厄系统吗？
PSEL公司的劳厄相机选用更小的X射线激发光源激发样品，可检测亚毫米级的样品。结合大面积、高分辨率探测器，我们可以将定向精度降到0.05°。PSEL公司的劳厄系统的结构设计满足晶片、大型铸锭以及涡轮合金等更大的部件使用需求。
垂直劳厄系统
PSEL公司的劳厄相机和市场上的其他相机还有什么不同？
PSEL公司的劳厄相机的X射线激发源的光束尺寸远小于市场上的其他相机，因此可以用于分析晶粒的结构/方向。该系统可以自动获取多达10000个大型多晶样品的取向测量，在太阳能电池方面，有助于了解晶粒取向对电池效率的影响。
多晶硅晶片扫描器
PSEL劳厄相机可以根据客户的环境和要求定制。可提供系统解决方案，例如：样品架、角度计、扫描台等，方便用户在转移到合适的切割工具前，对晶体进行常规校准。
探测器材料如CdTe，GaAs，微电子基片如GaN，压电材料和硅片切割可实现批次自动测量。PSEL劳厄相机提供的样品架可通过软件一次性采集多达100个样品。
PSEL劳厄相机可容纳10-100kg样品，可用于激光材料，大体积蓝宝石等样品检测。
PSEL劳厄相机配置多点扫描程序的高精密位移台，可以实现对氮化铝等薄膜方向的控制。
劳厄晶体定向系统
您还有什么感兴趣的吗？
PSEL公司初期是为科研客户提供相机，通过多年的市场推广，已经能面向工业客户为其提供系统解决方案。不同于老式昂贵的劳厄相机，本产品是为工业定制，目前已有超过200个系统在运行。
如果您对Daniel的问答环节感兴趣，想了解更多关于我们劳厄相机的信息，可联系我公司：北京先锋泰坦科技有限公司！
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