超快时间分辨光谱测试系统
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新闻
更多系统主要功能指标：
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宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
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高系统时间分辨率： <=5ps
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寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us
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高系统光谱分辨率： <0.1nm
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宽单次成谱范围： >=200nm
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静态（稳态）光谱采集，
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瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线
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系统集成整体控制及数据处理软件
超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析
主要应用方向
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光谱仪建议选型参数列表
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光谱仪型号 |
Omni-λ2002i |
Omni-λ3004i |
Omni-λ5004i |
Omni-λ7504i |
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光谱仪焦距 |
200mm |
320mm |
500mm |
750mm |
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相对孔径 |
F/3.5 |
F/4.2 |
F/6.5 |
F/9.7 |
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光谱分辨率（1200l/mm） |
0.3nm |
0.1nm |
0.08nm |
0.05nm |
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波长准确度 |
+/-0.2nm |
+/-0.2nm |
+/-0.15nm |
+/-0.1nm |
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倒线色散(1200l/mm) |
3.6nm/mm |
2.3nm/mm |
1.7nm/mm |
1.1nm/mm |
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光栅尺寸 |
50*50mm |
68*68mm |
68*68mm |
68*68mm |
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光栅台 |
双光栅 |
三光栅 |
三光栅 |
三光栅 |
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与探测器耦合 |
中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板 |
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系统光谱分辨率(1200l/mm) |
<=0.3nm |
<=0.2nm |
<=0.1nm |
<0.08nm |
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一次摄谱范围(150 l/mm) |
>230nm |
>150nm |
>90nm |
>60nm |
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光谱仪入口选项 |
光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等 |
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超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。
Zolix其他可配合超快测量系统
lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统
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光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)
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最小时间分辨率：16ps
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荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器
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激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源
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科研级正置显微镜及电动位移台
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空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器
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OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件
Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统
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测量模式：
- 1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；
- 2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。
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探测器：sCMOS相机
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成像空间分辨率：优于500nm
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载流子迁移定位精度 优于30nm
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时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选
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搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块
<20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线
13810233784
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