OLED寿命老化测试系统
简 述：
OLED寿命老化测试系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
品 牌：
Zolix
产品型号：
- -
新闻
更多简介
该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
系统主要测试参数绘制OLED寿命老化曲线
系统特点- 可根据实际需要定制多通道测量（96通道、128通道）
- 可提供恒温恒湿测试环境，模拟真实使用情况
恒温恒湿箱参数：
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箱体尺寸 |
具体尺寸待定 |
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温度范围 |
-40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择） |
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升温速率 |
2℃～4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载） |
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降温速率 |
0.7℃～1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载） |
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解析精度（显示） |
温度：±0.01℃ |
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解析湿度（显示） |
±0.1%R.H |
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温度波动度 |
±0.5℃ |
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温度均匀度 |
±2.0℃ |
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湿度范围 |
20%～98%R.H [25℃-85℃内] |
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湿度波动度 |
±2.0%R.H. |
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湿度偏差 |
±3% [湿度>75%RH 时] |
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总功率/电压 |
5KW/380V |
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控制功能 |
触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作 |
测试原理
13810233784
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