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  • 光电探测器APD

    介绍: 自Laser Components公司成立以来,已经有多年的APD研发和生产经验。目前LC公司可以提供高中低档的各型APD探测器及附件。
    品牌: 德国 LaserComponents
    型号: SAE230VX,SAE500VX,SAE230NX,SAE500NX,SAR500X/,SAR1500X,SAR3000X
  • 椭圆偏振光测量仪FE5000

    介绍: 通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
    品牌: 日本 大塚电子
    型号: FE5000
  • 膜厚测量仪FE-300

    介绍: 小型・低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!
    品牌: 日本 大塚电子
    型号: FE-300
  • OPTM 半导体膜厚测试仪

    介绍: 测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)
    品牌: 日本 大塚电子
    型号: optm
  • 激光粒径仪

    介绍: ELSZ-2000激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。
    品牌: 日本 大塚电子
    型号: ELSZ-2000
  • 量子效率测定系统QE-2000

    介绍: 量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作,可以在短时间内完成试料的测量及解析。
    品牌: 日本 大塚电子
    型号: QE-2000
  • HRPCS高分辨率光子成像相机

    介绍: HRPCS 高分辨率光子成像相机,成像速度100fps。
    品牌: 英国 Photek
    型号: HRPCS
  • 镜头耦合像增强模块IIM系列

    介绍: IIM 系列全新升级版,深度契合客户实际应用,根据应用场景分为A/B/C 三大结构设计,内部全部采用高度一体化结构设计,耦合25mm 大靶面像增强器, 可以提供光电转换,增益以及高速快门功能,专门特殊设计用来通过Nikon -F 或C 接口安装到用户已有的CCD 相机,EMCCD,sCMOS 或高速相机上面。
    品牌: Zolix
    型号: IIM-A系列,IIM-B系列,IIM-C系列