筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 美国 Advanced Optowave Corporation (AOC)
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Boston Electronics
- 美国 Bristol Instruments
- 英国 Chromacity
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- Dualix
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 美国 HelioWorks
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 加拿大 Lumenera
- 美国 Mcpherson
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 美国 Modu-Laser
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 德国 Opsira
- 以色列 OptiqGain
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 法国 Pleiades
- 美国 PRO
- 德国 Proxivision
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 美国 Radiant
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 荷兰 Spectral Industries
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 德国 VALO INNOVATIONS
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 荧飒光学
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
- 激光闪光光解
- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 反射光谱
- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- PIV
- 激光雷达反射测试
- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
- 仪表盘测试
- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
- 火车轮毂温度测试仪
- 膜厚测试仪
- HUD
- PIV
- 激光雷达
- 激光防护
- 激光波前测试
- 激光器光路调整
- 激光显示测试
- 波长测试
- FBG刻写
- 光通信器件生产和检验系统
- GPS/北斗授时
- 光源测试
- 光学A/D
- 器件网络测试
- 微量气体分析
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- EUV器件检测
- 失效分析
- EUV光源检测
- 新风系统二氧化碳检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
- TOC有机总碳测试
- VOC有害气体检测
- 食品异物检测
- 拉曼测量
- 地物高光谱
- 环境检测
- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
- TDLAS
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 生化分析
- 气体分析
- 血氧测试仪
- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
- 血球分析
- 激光医美
- 光声光谱与成像
- 化学发光测试仪
- 医用照明测试
- 医学光度色度测试
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 生物自荧光
- 生物荧光拉曼
- 光镊/ 生物荧光
- 光束整形/涡旋光
- CARS/SRS
- 眩光测试
- 光源频闪测试
- 显微成像
- 血管成像
- OCT
- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 近红外光谱测试
- 火灾探测
- X射线安检
- 拉曼测量
- 人体/行李违禁物检测
- 高光谱成像校准
- 深空成像系统标定
- 遥感高光谱成像
- 杂散光吸收
- 液晶可调滤光片
- 空间光通讯
- 空间观测与LIDAR
- 遥感镜头杂散光模拟测试
- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
- PLIF
- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
- 光梳
- 原子冷却
- 照度计量
- 光度色度计量
- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
- Trulume显示屏测试
- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
- 准直均匀光源
- 分布光度计
- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
- 自动光学检测
- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
- LIBS
- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
- 光束品质分析
- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
- AR/VR 设备测量
- 紫外切割
- 超快微加工
- 显示屏测试
- 激光安全认证
- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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扫描镜头f-theta 镜头
介绍： 常用于工业材料加工，如钻孔，焊接，切割等，同时也用于医药，生物科学和其他科研方面。适用于短脉冲，超短脉冲飞秒激光设品牌： 德国 Sill Optics型号： f-theta -
CVI窗片和光学基片
介绍： 窗口是简单而高性能的基板，具有平行或微光楔的表面。它们将一个光学环境与另一个光学环境分开，并可对光束进行采样或转向。 CVI 支持定制多种形状，楔形选项和抗反射涂层。所有这些都按照严格标准制造，低波前失真、低散射、高激光损伤阈值，能满足对镜片要求极为严格的激光应用。品牌： 美国 CVI型号： CVI
13810233784
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