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SPM900系列少子寿命成像测试仪
介绍： SPM900系列少子寿命成像测试仪在显微镜上加载少子寿命测试模块，对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。系统主体包括显微镜主体、激光光源、光子计数检测器、单色仪及自动XY样品台等部分，可实现微区单点少子寿命测量和少子寿命成像检测。品牌： Zolix型号： - -
汤姆逊散射光谱诊断系统
介绍： 基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量，借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进，汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高（局域测量），测量值稳定可靠等优点。品牌： Zolix型号： - -
激光诱导荧光光谱诊断系统
介绍： LIF在等离子体上的应用诊断开始于1975年左右，首先是由R.Stern和J.Johnson提出的利用LIF装置可以测量中性基团和离子的相对速度、速度分布函数等。90年代后，LIF被陆续应用到了ECR、ICR、磁控管、螺旋波HELIX、ICP以及微波驱动CVD等等离子体源中。品牌： Zolix型号： - -
激光诱导击穿光谱（LIBS）测试系统
介绍： 激光诱导击穿光谱（LIBS）是一种通过脉冲激光轰击样品获得样品轰击面区域原子发射光谱的分析方法。其具有快速分析，同时能检测多种元素等特点。经过几十年，特别是近20年的研究发展，LIBS技术已经从实验室逐步向实际利用领域发展，如冶金，文物鉴定，考古等方面。而该技术中除了相关的激光器，快速诊断探测器，光谱仪的使用也至关重要。品牌： Zolix型号： -
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