日本 Santec
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灵活性SS-OCT 数据采集器HAD-5200B-S
HAD-5200B-S 提供高速DAQ与Santec 高性能扫频光源兼容。重定标技术写入FPGA,用于实时OCT 图形处理。查看详情> -

SLM-300高功率空间光调制器
SLM-300 为高功率型号,创下了承受 200W 高功率激光的纪录,比 SLM-200 高 100 倍。查看详情> -

可变衰减器MOVA
• 基于MEMS 技术,电压驱动的 可调衰减器 • 迷你系列 COVA-1 • MEMS 系列 MOVA-1 • 低压驱动/ 高速系列 MOVA-H • PMF 系列查看详情> -

中红外扫频光源
Santec 中红外扫频光源提供3200nm ~3400nm 高速扫频功能,非常适合TDLAS 气体检测传感。查看详情> -

OCT 快速扫频光源HSL
基于Santec 领先的VCSEL、ECDL、MEMS技术,提供1060nm、1310nm共四种类型的快速扫频光源,满足不同领域OCT设备的需要。查看详情> -

3-D 形貌仪OPS-1000
OPS-1000 系列扫频式相干成像的3-D 形貌仪整合了快扫描可调谐激光技术、干涉计量技术,提供单光束、高灵敏度、非接触的光学方法形貌测量。OPS-1000 可为各种类型形状、材质、颜色及表面形状的物体提供高速、高精度、无接触的形貌测量功能。查看详情> -

平衡探测器BPD-200
平衡探测器输出一个与两路光信号之间的差值有关的信号,是扫频OCT 的常规探测器,可避免激光器功率起伏导致的共模噪声。 Santec BPD-200 为OCT 专门设计,具备很低的背反射和平坦的平衡响应,可减轻不期望的伪图像。BPD-200 在检测两路位相相反的信号时灵敏度为3dB,可在大多数场合用在外差测量系统查看详情> -

3D OCT 分析软件Multi Slice Viewer
Multi Slice Viewer 提供OCT 3D 数据(IVS 系列原始数据)的进一步分析功能。对所有X-Y-Z 平面数据的同步分析可提供对图像数据的更好理解。这一强大的工具可协助从数据集中提取细节信息,以及对3D 内容的定量分析。查看详情> -

UV增强空间光调制器SLM-250
SLM-250 是 SANTEC 独特的 UV 增强的产品,采用全新的液晶和介质膜工艺,在 10mW/cm2 紫外辐照下可以长期使用。查看详情> -

OCT 级干涉模组IFM
IFM100 及IFM200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组,通常为每个客户的OCT 系统配置而订制,可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控光学延迟线之类的功能。Santec 也可为OEM 用户订制解决方案包括Michelson 及Fizeau 干涉仪查看详情> -

扫频OCT系统IVS
VS 系列组合式的扫频OCT 系统提供完整功能,同时可以灵活地调整配置,可用于医学、工业等领域宽范围的应用。可选择根据应用调整各组件的配置,以优化成像速度,分辨率,成像范围及深度。系统提供图形界面的软件,可进行扫描控制、3D 图形显示、切面显示等。可选API 用于集成至其他设备或进行自动化图形处理。支持软件、硬件订制。查看详情>





















































































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