量子效率测定系统QE-2000

简  述:
量子效率测量系统“QE-2000”是一种测量量子效率(量子产额)的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作,可以在短时间内完成试料的测量及解析。
品  牌:
日本 大塚电子
产品型号:
  • QE-2000
QE-2000 使用高精度测量仪(注1),利用激发光和荧光的光量子数求得量子效率(量子产额),从而实现绝对的高精度测量。
此前方法 QE2000  
粉剂试料   用配光法
(测量空间分布)测量
使用积分半球测量 •操作简单
•短时间内即可测出
•装置简单精巧
•不需要暗室
粉剂试料 量子效率(量子产额)
对比测量
已知试料
与对象试料
只测量对象试料
使用积分半球测量
•短时间内即可测出
•不需要其他准备测试(吸光度测试
等)
•不需要已知试料的量子效率(量子
产量),不依赖于已知试料的精度
注1:根据计量法校正企业登录制度(JCSS),按照国家标准可追踪标准光源进行校正。
量子效率(量子产额)的测量示意图
参考值以及样品的激发光、荧光光谱的测量示例

注2:荧光体试料所吸收的光量子数

量子效率测定 系统QE-2000的优点

实现绝对测量的大塚电子专注于以下3 点。
专注于高精度测量
  • 可以瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)
  • 可以除去激发荧光发光光谱
  • 采用积分半球系统,实现高亮度测量
  • 采用低杂光多频分光检出器,大幅度减少紫外域的杂光

专注于简单操作

  • 使用专用软件,操作简单
  • 轻松安装
  • 拆卸试料测量用固定治具
  • 节省空间,设计简洁
  • 使用分光器类型的激发光源,可以选择任意波长
  • 可以在软件上设定激发光源的波长及步值,实现自动测量
专注于全面测量
  • 可以测量粉剂、溶液、固体(薄膜)、薄膜试料
  • 丰富的解析功能

         - 测量量子效率(量子产额)

         - 测量激发波长依赖性

         - 测量发光光谱

         - 测量PL 激发光谱

         - 测量EEM(Excitation Emission Matrix)

应用领域
  • 用于测量LED、有机EL 用荧光体的量子效率(量子产额)
  • 用于测量薄膜形状试料的透射荧光•反射荧光的量子效率(量子产额)(远程荧光粉用荧光体样品等)
  • 用于测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光
  • 用于测量色素敏化太阳能电池的量子效率(量子产额)
  • 用于测量络化物化合物
量子效率测定系统QE-2000产品规格
样式 3683c 311c 2580c 3095c
测量波长范围 360~830nm 360~1100nm 250~800nm 300~950nm
1 像素的波长宽度
光接收像素CH 数
1.0nm 0.5nm 1.6nm 0.8nm 1.2nm 0.6nm 1.4nm 0.7nm
512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch
像素 电子冷却式CCD 图像传感器
位深 16 位
分光器光学配置 背底(flatfield)型F=3,f=85.8mm
激发光源
光源  150W Xe 灯
激发波长  250~800nm
带宽  FWHM 5nm/Slit 0.6mm
样品抗光降解  自动关闭装置
激发波长控制  自动控制
积分球
材质 Spectralon(美国Labsphere 公司**材料名 无中文)
尺寸          150mm 半球(HalfMoon)
样品固定治具
粉剂测量固定治具 SUS304 制,无石英盖
溶液测量用固定治具(常温) 石英制溶液容器(开放型)
功耗
电源电压 AC100~120V/AC 200~230V
软件
  量子效率(量子产额)测量
量子效率(量子产额)的激发波长依赖特性
反射光谱测量
PL 激发光谱
EEM(Excitation Emission Matrix)显示
二次激发校正
发光光谱测量
透过•吸收光谱测量
颜色演算(色度、色温、演色性等)
 
 

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