筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 美国 Advanced Optowave Corporation (AOC)
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Boston Electronics
- 美国 Bristol Instruments
- 英国 Chromacity
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- Dualix
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 美国 HelioWorks
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 加拿大 Lumenera
- 美国 Mcpherson
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 美国 Modu-Laser
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 德国 Opsira
- 以色列 OptiqGain
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 法国 Pleiades
- 美国 PRO
- 德国 Proxivision
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 美国 Radiant
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 荷兰 Spectral Industries
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 德国 VALO INNOVATIONS
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 荧飒光学
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
- 激光闪光光解
- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 反射光谱
- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- PIV
- 激光雷达反射测试
- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
- 仪表盘测试
- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
- 火车轮毂温度测试仪
- 膜厚测试仪
- HUD
- PIV
- 激光雷达
- 激光防护
- 激光波前测试
- 激光器光路调整
- 激光显示测试
- 波长测试
- FBG刻写
- 光通信器件生产和检验系统
- GPS/北斗授时
- 光源测试
- 光学A/D
- 器件网络测试
- 微量气体分析
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- EUV器件检测
- 失效分析
- EUV光源检测
- 新风系统二氧化碳检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
- VCSEL测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
- TOC有机总碳测试
- VOC有害气体检测
- 食品异物检测
- 拉曼测量
- 地物高光谱
- 环境检测
- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
- TDLAS
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 生化分析
- 气体分析
- 血氧测试仪
- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
- 血球分析
- 激光医美
- 光声光谱与成像
- 化学发光测试仪
- 医用照明测试
- 医学光度色度测试
- 拉曼测量
- 荧光寿命
- 生物自荧光
- 生物荧光拉曼
- 光镊/ 生物荧光
- 光束整形/涡旋光
- CARS/SRS
- 眩光测试
- 光源频闪测试
- 显微成像
- 血管成像
- OCT
- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
- 近红外光谱测试
- 火灾探测
- X射线安检
- 拉曼测量
- 人体/行李违禁物检测
- 高光谱成像校准
- 深空成像系统标定
- 遥感高光谱成像
- 杂散光吸收
- 液晶可调滤光片
- 空间光通讯
- 空间观测与LIDAR
- 遥感镜头杂散光模拟测试
- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
- PLIF
- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
- 光梳
- 原子冷却
- 照度计量
- 光度色度计量
- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
- Trulume显示屏测试
- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
- 准直均匀光源
- 分布光度计
- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
- 自动光学检测
- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
- LIBS
- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
- 光束品质分析
- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
- AR/VR 设备测量
- 紫外切割
- 超快微加工
- 显示屏测试
- 激光安全认证
- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 激光焊接匙孔监测
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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小型光栅光谱仪-ASP
介绍： 小型光栅光谱仪可用于测量较宽光谱的光源，例如飞秒激光器、LED、半导体激光器等。AVESTA 生产的75mm 焦距、150mm 焦距光谱仪及红外光谱仪，尺寸介于掌上光谱仪与大型光栅光谱仪之间，中心波长可选/ 可调节，兼顾分辨率与覆盖范围，适合飞秒激光测试等既要求足够的覆盖范围也要求足够的分辨率的应用。品牌： 俄罗斯 Avesta型号： ASP-75,ASP-150 -
增材制造专用激光分析系统
介绍： BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamCheck,BeamPeek -
掌上型光谱仪-Stellarnet
介绍： 美国StellarNet 公司专业生产掌上式光谱仪，覆盖190 ~ 2600nm。采用不同的光栅、探测器，覆盖范围可达900nm，分辨率可低至0.05nm。品牌： 美国 StellarNet型号： Stellernet -
增材制造专用激光焦点分析系统
介绍： BeamWatch AM 是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰( 焦点) 宽度和位置、焦点变化、重心、M2、瑞利长度、倾角等。BeamWatch AM 测量技术是基于激光在传播时，空气中氧和氮分子对激光产生瑞利散射。对这种散射光的测量提供了对激光束在观察视图方向上的分析。同时BeamWatch AM 内部集成了一个功率计，可测量激光功率。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamWatch AM -
高功率激光集成式分析仪BeamWatch Integrated
介绍： BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基础上，在特定位置集成了功率探头，可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated 分为150/ 500连个型号，功率探头距离焦点的距离分别为150mm和175mm。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamWatch Integrated -
宽光束成像仪Wide Beam Imager
介绍： 超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测，而大口径的缩束系统（望远镜）成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上，再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上，是一种便利的方法。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： Wide Beam Image -
LBS-300衰减组合（分光+ 衰减）
介绍： 组合式衰减器集成了分光器和可变中型密度滤光片，可直接旋接在相机上使用。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： LBS-300
13810233784
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