筛选
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增材制造专用激光分析系统
介绍： BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamCheck,BeamPeek -
增材制造专用激光焦点分析系统
介绍： BeamWatch AM 是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰( 焦点) 宽度和位置、焦点变化、重心、M2、瑞利长度、倾角等。BeamWatch AM 测量技术是基于激光在传播时，空气中氧和氮分子对激光产生瑞利散射。对这种散射光的测量提供了对激光束在观察视图方向上的分析。同时BeamWatch AM 内部集成了一个功率计，可测量激光功率。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamWatch AM -
高功率激光集成式分析仪BeamWatch Integrated
介绍： BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基础上，在特定位置集成了功率探头，可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated 分为150/ 500连个型号，功率探头距离焦点的距离分别为150mm和175mm。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： BeamWatch Integrated -
宽光束成像仪Wide Beam Imager
介绍： 超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测，而大口径的缩束系统（望远镜）成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上，再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上，是一种便利的方法。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： Wide Beam Image -
LBS-300衰减组合（分光+ 衰减）
介绍： 组合式衰减器集成了分光器和可变中型密度滤光片，可直接旋接在相机上使用。品牌： 美国 Ophir-Spiricon型号： LBS-300
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