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  • SPM300系列半导体参数测试仪

    介绍: 基于拉曼光谱半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异 性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。 设备具有智能化的软件,可对数据进行拟合计算,直接将载流子浓度、 晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。
    品牌: Zolix
    型号: SPM300系列