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类别

  • SPM300系列半导体参数测试仪

    介绍: 基于拉曼光谱半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异 性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。 设备具有智能化的软件,可对数据进行拟合计算,直接将载流子浓度、 晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。
    品牌: Zolix
    型号: SPM300系列
  • SPM600系列半导体参数分析仪

    介绍: SPM600系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。系统集成高精度光谱扫描、光电流扫描以及光响应速率测试。40um探测光斑,实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试,是半导体微纳器件研究的优选。
    品牌: Zolix
    型号: SPM600
  • SPM900系列少子寿命成像测试仪

    介绍: SPM900系列少子寿命成像测试仪在显微镜上加载少子寿命测试模块,对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。系统主体包括显微镜主体、激光光源、光子计数检测器、单色仪及自动XY样品台等部分,可实现微区单点少子寿命测量和少子寿命成像检测。
    品牌: Zolix
    型号: -