日本 Santec
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SLM-300高功率空间光调制器
SLM-300 为高功率型号，创下了承受 200W 高功率激光的纪录，比 SLM-200 高 100 倍。查看详情> -
UV增强空间光调制器SLM-250
SLM-250 是 SANTEC 独特的 UV 增强的产品，采用全新的液晶和介质膜工艺，在 10mW/cm2 紫外辐照下可以长期使用。查看详情> -
OCT 图形查看器OCT 3D Viewer
OCT 3D Viewer 为以3D 模式查看OCT 图像而专门设计。导入OCT 数据即可生成清晰而出众的图像。支持旋转，修剪，对比度调节等多种操作和设定，以实现图像优化。图形可做成动画并保存，生成令人惊叹的报告，展现3D 图形各方面特性在设置改变时的变化。查看详情> -
光学滤波器及多通道MUX/ DeMUX 滤波模组
• 基于MEMS 的可调谐滤波器MTF-1 • 2 口在线滤波器OFM-15 • 3 口Add/ Drop 滤波模块 • 多通道MUX/ DeMUX 模块 • 3 口Add/ Drop CWDM 模块 • CWDM MUX/ DeMUX 模块 • 紧凑型CWDM MUX/ DeMUX 模块查看详情> -
扫频OCT系统IVS
VS 系列组合式的扫频OCT 系统提供完整功能，同时可以灵活地调整配置，可用于医学、工业等领域宽范围的应用。可选择根据应用调整各组件的配置，以优化成像速度，分辨率，成像范围及深度。系统提供图形界面的软件，可进行扫描控制、3D 图形显示、切面显示等。可选API 用于集成至其他设备或进行自动化图形处理。支持软件、硬件订制。查看详情> -
3D OCT 分析软件Multi Slice Viewer
Multi Slice Viewer 提供OCT 3D 数据（IVS 系列原始数据）的进一步分析功能。对所有X-Y-Z 平面数据的同步分析可提供对图像数据的更好理解。这一强大的工具可协助从数据集中提取细节信息，以及对3D 内容的定量分析。查看详情> -
3-D 形貌仪OPS-1000
OPS-1000 系列扫频式相干成像的3-D 形貌仪整合了快扫描可调谐激光技术、干涉计量技术，提供单光束、高灵敏度、非接触的光学方法形貌测量。OPS-1000 可为各种类型形状、材质、颜色及表面形状的物体提供高速、高精度、无接触的形貌测量功能。查看详情> -
可变衰减器MOVA
• 基于MEMS 技术，电压驱动的 可调衰减器 • 迷你系列 COVA-1 • MEMS 系列 MOVA-1 • 低压驱动/ 高速系列 MOVA-H • PMF 系列查看详情> -
中红外扫频光源
Santec 中红外扫频光源提供3200nm ~3400nm 高速扫频功能，非常适合TDLAS 气体检测传感。查看详情> -
通用型高分辨率空间光调制器SLM-200
SLM-200 为通用型高分辨率空间光调制器。查看详情> -
OCT主控软件Inner Vision Software
VS 软件随所有IVS SS-OCT 系统提供。它包括1D，2D，3D 及成像模式，可存储为各种图形格式也可存储原始数据。所有IVS 软件功能亦可通过Santec 的SDK，利用C++/ C#/ Lab view 编程实现。查看详情>
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