日本 Santec
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滤波芯片
Santec 提供芯片级PON 滤光片、CWDM 滤光片、增透芯片、订制滤光片等查看详情> -
UV增强空间光调制器SLM-250
SLM-250 是 SANTEC 独特的 UV 增强的产品，采用全新的液晶和介质膜工艺，在 10mW/cm2 紫外辐照下可以长期使用。查看详情> -
OCT 快速扫频光源HSL
基于Santec 领先的VCSEL、ECDL、MEMS技术，提供1060nm、1310nm共四种类型的快速扫频光源，满足不同领域OCT设备的需要。查看详情> -
通用型高分辨率空间光调制器SLM-200
SLM-200 为通用型高分辨率空间光调制器。查看详情> -
OCT 级干涉模组IFM
IFM100 及IFM200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组，通常为每个客户的OCT 系统配置而订制，可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控光学延迟线之类的功能。Santec 也可为OEM 用户订制解决方案包括Michelson 及Fizeau 干涉仪查看详情> -
OCT 图形查看器OCT 3D Viewer
OCT 3D Viewer 为以3D 模式查看OCT 图像而专门设计。导入OCT 数据即可生成清晰而出众的图像。支持旋转，修剪，对比度调节等多种操作和设定，以实现图像优化。图形可做成动画并保存，生成令人惊叹的报告，展现3D 图形各方面特性在设置改变时的变化。查看详情> -
平衡探测器BPD-200
平衡探测器输出一个与两路光信号之间的差值有关的信号，是扫频OCT 的常规探测器，可避免激光器功率起伏导致的共模噪声。 Santec BPD-200 为OCT 专门设计，具备很低的背反射和平坦的平衡响应，可减轻不期望的伪图像。BPD-200 在检测两路位相相反的信号时灵敏度为3dB，可在大多数场合用在外差测量系统查看详情> -
扫频OCT系统IVS
VS 系列组合式的扫频OCT 系统提供完整功能，同时可以灵活地调整配置，可用于医学、工业等领域宽范围的应用。可选择根据应用调整各组件的配置，以优化成像速度，分辨率，成像范围及深度。系统提供图形界面的软件，可进行扫描控制、3D 图形显示、切面显示等。可选API 用于集成至其他设备或进行自动化图形处理。支持软件、硬件订制。查看详情> -
3-D 形貌仪OPS-1000
OPS-1000 系列扫频式相干成像的3-D 形貌仪整合了快扫描可调谐激光技术、干涉计量技术，提供单光束、高灵敏度、非接触的光学方法形貌测量。OPS-1000 可为各种类型形状、材质、颜色及表面形状的物体提供高速、高精度、无接触的形貌测量功能。查看详情> -
FMCW LiDAR-InnerVision
InnerVision FMCW LiDAR 采用高速扫频、单纵模1060nm 光源HSL-1。借助光源单纵模、超长相干距离的特性，可实现长距离3-D 形貌绘制查看详情> -
功率监控器
• 终端Tap 光电管 • 迷你Tap 光电管 • 集成多路Tap 光电管 • 单向Tap 光电管 • 集成、带PMF 的Tap 光电管 • 带尾纤的Tap 光电管 • 迷你尾纤Tap 光电管 • 数字化输出多通道Tap 光电管查看详情> -
光学滤波器及多通道MUX/ DeMUX 滤波模组
• 基于MEMS 的可调谐滤波器MTF-1 • 2 口在线滤波器OFM-15 • 3 口Add/ Drop 滤波模块 • 多通道MUX/ DeMUX 模块 • 3 口Add/ Drop CWDM 模块 • CWDM MUX/ DeMUX 模块 • 紧凑型CWDM MUX/ DeMUX 模块查看详情>
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