SIT-200硅晶圆检测仪采用一台高速扫频激光器用于硅晶圆厚度探测。与传统光学测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备非常高的功率谱密度,从而提高了动态范围;因此,SIT-200支持非抛光晶圆厚度测量,例如在湿刻过程中/湿...
MLC系列控制模块用于灵活地控制激光的偏振和强度。采用卡槽式设计,三个卡位可放置半波片、四分之一波片、偏振片卡盘的灵活组合,并可分别精密调节;两端光纤接口用于光信号输入输出。 光学元件卡盘具备清晰的读数,使得精密调节简便...
ADL-200可编程光延时器提供高达2.5ns的可调延时,具备低插损、低损耗起伏的特征,适合各种延迟线应用·2.5ns可调延时·低损耗+低损耗起伏·前面板控制,VFD清晰显示·USD+GPIBØ技术指标1....
OMT系列光学多功能测试仪用于光学器件及通讯系统的测试与评价。OMT主机框提供GPIB及Ethernet接口,用于远程操作和读取测量模块。灵活组合的光功率计、衰减器及交换机可根据应用场景构成特定的测试仪器,并可与其他系统...
FOTDR-300 频分复用相干光时域反射仪(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR) 不同于传统的C-OTDR。它在同一个时间段内发送不同频率的多个探针脉冲,从而在同样...
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